Hitech Semiconductor သည် အီလက်ထရွန်းနစ် ထောက်ပံ့ရေးကွင်းဆက်အားလုံးတွင် အစိတ်အပိုင်းအတုများစွာ ရှိနေကြောင်း သိထားပြီး၊ ၎င်းသည် သုံးစွဲသူများအတွက် ကြီးလေးသော ပြဿနာများနှင့် ဆိုးရွားသော အကျိုးဆက်များကို ဖြစ်စေနိုင်သည်။ ထို့ကြောင့်၊ ကုန်ပစ္စည်းတစ်ခုစီ၏အရည်အသွေးကို မတင်ပို့မီ ဘေးကင်းပြီး ယုံကြည်စိတ်ချရသော၊ အသစ်နှင့် မူရင်းဖြစ်ရန် ကျွန်ုပ်တို့ အလေးအနက်တောင်းဆိုပါသည်။
Hitech Semiconductor သည် ကျွန်ုပ်တို့၏ဖောက်သည်များအတွက် ကမ္ဘာလုံးဆိုင်ရာ အရင်းအမြစ်နှင့် ထောက်ပံ့ရေးကွင်းဆက်စီမံခန့်ခွဲမှုဆိုင်ရာ ကတိကဝတ်များကို ပံ့ပိုးပေးရန်အတွက် Whitehorse Labs နှင့် CECC Labs တို့နှင့် ပူးပေါင်းထားသည်။ HitechChip သည် တိုးပွားလာသော စံချိန်စံညွှန်းနှင့် အတုအပ အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများကို တုံ့ပြန်ရန် စမ်းသပ်ခြင်း၊ စစ်ဆေးခြင်းနှင့် ထုပ်ပိုးခြင်းလုပ်ငန်း ယူနစ်ကို တည်ထောင်ခဲ့သည်။
"အရည်အသွေး ပထမ။" Hitech Semiconductor သည် လိုအပ်သည့်အခါတွင် တင်ပို့ခြင်းမပြုမီ အစိတ်အပိုင်းအားလုံးနီးပါးအတွက် စမ်းသပ်မှုအစီရင်ခံစာများနှင့် ထုတ်ကုန်အရည်အသွေး စစ်ဆေးမှုတို့ကို ပံ့ပိုးပေးနိုင်ပါသည်။ Hitech Semiconductor ၏ စမ်းသပ်ခြင်းဝန်ဆောင်မှုများတွင် ကျွန်ုပ်တို့၏ ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့်ဖြန့်ချီရေးကွန်ရက်ကို ပံ့ပိုးပေးသည့် ပြင်ပအဖွဲ့အစည်းမှ အသိအမှတ်ပြုဓာတ်ခွဲခန်း/အသုံးအဆောင်ပစ္စည်းများ၏ လုံခြုံသောကွန်ရက်တစ်ခု ပါဝင်သည်။ ဤကျယ်ပြန့်သောကွန်ရက်သည် သုံးစွဲသူများအား အန္တရာယ်ကင်းသော ထိတွေ့မှုအကြိမ်ကြိမ်ရရှိစေရန် သေချာစေရန် ဝင်လာသောထုတ်ကုန်များ၏ ကျွမ်းကျင်ထုတ်ကုန်စမ်းသပ်မှုကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။ အီလက်ထရွန်းနစ် အစိတ်အပိုင်း အရည်အသွေးစစ်ဆေးမှုသည် လိုက်လျောညီထွေမဟုတ်သော မည်သည့်ပစ္စည်းကိုမဆို ခွဲခြားသတ်မှတ်ရန်နှင့် ထုတ်လုပ်သူ၏ သတ်မှတ်ချက်များအားလုံး ပြည့်မီကြောင်း အတည်ပြုရန် လုပ်ဆောင်သည်။ ထုတ်ကုန်နမူနာများကိုလည်း ကျပန်းရွေးချယ်ပြီး ထုတ်ကုန်ဆိုင်ရာ ကိုက်ညီမှုရှိစေရန်နှင့် ဆိုက်ပေါ်ရှိ အရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှုစာရွက်စာတမ်းများကို သေချာစေရန်အတွက် ပုံမှန်စစ်ဆေးပါသည်။
ကုန်ပစ္စည်း၏မျက်နှာပြင်သည် မည်မျှယုံကြည်စိတ်ချရသောပုံပေါက်ပါစေ၊ Hitech Semiconductor သည် ကျွန်ုပ်တို့ကိုယ်တိုင် စမ်းသပ်မှုများဆက်တိုက်ပြုလုပ်မည် သို့မဟုတ် စမ်းသပ်ရန်အတွက် ပရော်ဖက်ရှင်နယ်တတိယအဖွဲ့အစည်းစမ်းသပ်မှုဖြစ်သည့်- Solderability test၊ ဓာတ်တိုးမှုကိုကာကွယ်ရန်နှင့် ဂဟေ၏ယုံကြည်စိတ်ချရမှုကိုသေချာစေရန်၊ ပြန်လည်မွမ်းမံထားသော အစိတ်အပိုင်းများကို တားဆီးရန် အမြဲတမ်း အမှတ်အသားပြုခြင်း စမ်းသပ်ခြင်း။
လိုအပ်ပါက X-Ray စစ်ဆေးမှုများလည်း ရှိလာမည်ဖြစ်သည်။